Caracterización de Mediciones al Femtosegundo en el Análisis de Patrones Atómicos. Congreso Nacional de Ciencia y Tecnología – APANAC, [S. l.], v. 1, n. 1, p. 407–413, 2026. DOI: 10.33412/apanac.2025.60. Disponível em: https://publicaciones.apanac.org.pa/index.php/congreso2025/article/view/60. Acesso em: 18 may. 2026.